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瑞萨为下一代汽车架构推28纳米MCU 内置自测试功能增强

发布时间:2019-05-31 13:13:49 编辑:笔名
瑞萨为下一代汽车架构推28纳米MCU 内置自测试功能增强

导读: 当地时间2月19日,日本瑞萨电子株式会社(Renesas Electronics Corporation)宣布研发,并成功运行验证了一款汽车测试芯片,可实现采用28纳米(nm)低功耗工艺的下一代汽车控制闪存微控制器(MCU)。

据外媒报道,当地时间2月19日,日本瑞萨电子株式会社(Renesas Electronics Corporation)宣布研发,并成功运行验证了一款汽车测试芯片,可实现采用28纳米(nm)低功耗工艺的下一代汽车控制闪存微控制器(MCU)。瑞萨电子是全球领先的先进半导体解决方案供应商。

该MCU有4个600兆赫(MHz)CPU(中央处理器),具备锁步机制和16MB闪存容量以及:

1、支持MCU虚拟化的虚拟化辅助功能:该技术允许多个软件组件在一个MCU上运行,互不干扰,从而满足道路车辆ISO 26262功能安全标准规定的最高汽车安全完整性级别ASIL D的要求。

2、内置的自测试功能(BIST)得以增强,可用于MCU自诊断故障检测,这也是满足ASIL D的必备功能。能够满足ASIL D得益于其配备了新研发的备用恢复内置自测试功能,可在备用恢复期间执行内置自测试功能。

3、用于高速传输传感器信息的千兆以太网接口等网络功能得以增强。

瑞萨将在于2月17至21日在旧金山举行的2019年国际固态电路会议(ISSCC)上展示其测试结果。

作者:余秋云

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